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光学仪器及设备
PL光致发光成像太阳能电池生产检测设备
lyncee+材料3D实时动态显微镜+DHM™ R2100
Denselight SLD
细胞3D实时动态显微镜
Yenista+Tunics Reference+高性能可调激光光源
yenista+OSICS T100+窄线宽可调激光器
Yenista+TUNICS T100R+可调谐激光器
Yenista+T100S-HP+高功率可调激光器
fiberlabs光纤放大器S波段
fiberlabs光纤放大器0波段
其他
Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪
光伏电池测试太阳模拟器
光伏测试太阳模拟器
变温霍尔效应测试仪
IV测试,QE测试用探针台样品台PVM
制备多晶硅太阳电池的氮化硅涂层沉积设备
在线式HIT用PECVD MVS
卷对卷柔性薄膜沉积设备MVS
已封装的标准太阳能电池
已校准的标准太阳能电池
半导体行业专用仪器
霍尔效应测试仪
膜厚光谱分析仪系统
嵌入式膜厚测试仪
膜厚测量仪
椭圆偏光膜厚测量仪(手动)
椭圆偏光膜厚测试仪(自动)
反射式膜厚测量仪
Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
太赫兹时域光谱仪TDS
测量/计量仪器
接触电阻率测试仪
HalfMoon LED光色电检查系统
台阶仪
PLUTO高精度纯相位空间光调制器系统
空间光调制器Holoeye
光谱检测分析仪
FX2000工业级微型光谱仪
PG2000-Pro科研级高灵敏光谱仪
NOVA实验级制冷型光纤光谱仪
碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪傅立叶红外光谱仪
FTE-8000手持式光谱分析仪
相关仪表
WCT-120PL产品分别采用标准QSSPC方法和光致发光法测量硅片的载流子寿命
单锥拉锥系统
保偏光纤耦合器熔融拉锥机
普通单模光纤拉锥系统
电化学仪器
电化学ECV +掺杂浓度PN结深测试+CVP21
电化学CV分布仪(CV测试仪)
辐射测量仪器
太赫兹探测器高莱探测器THz Golay cell
制样/消解设备
溅射设备MVS
无损检测/无损探伤仪器
CoreScan、Sherescan电池片面电阻测试系统
联系方式 |
产品系列
全自动电化学CV分布仪 CVP21光伏太阳能领域的**! 众多科研和半导体领域用户的的**!
上海瞬渺光电官方中国**全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商!服务众多知名光伏企业!
本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上, 例如:Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.
CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率,准确的测量半导体材料(结构,层)中的掺杂浓度分布.选用合适的电解液与材料接触,腐蚀,从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制
CVP21的系统特点
• 坚固可靠的模块化系统结构 .光学,电子和化学部分相对独立.
• 精确的测量电路模块
• 强力的控制软件,系统操作,使用简便
• 完善的售后服务
特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用
知名用户:
(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.
在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。
产品**结合我们在电化学方分布测试方面超过30年的经验和世界上***的电路系统。
全自动, 特别适用于新材料, 如氮化镓, 碳化硅材料,多晶硅等等。
有效检测:
•外延材料
•扩散
•离子注入
适用材料:CVP21应用范围宽,可以用于绝大多数的半导体材料。
IV族化合物半导体如:硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等…
III-V族化合物半导体如:砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等…
三元III-V族化合物半导体如:铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等…
四元III-V族化合物半导体如:铝镓铟磷(AlGaInP)等…
氮化物如:氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等…
II-VI族化合物半导体如:氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等…
其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。
载流子浓度测量范围:
•** 1021/cm³
•*小 1011/cm³
深度解析度:
•**无上限
•*小可至1 nm (或更低)
模块化系统结构:
•拓扑型结构
•实时监控腐蚀过程
•适于微小样品及大尺寸的晶圆
全自动化系统:
•
精密的电路,电子系统
•
强力的软件
**优质服务
提供免费样品测试并提供测试报告。
对用户承诺终身免费样品测试每月1次。
保修期:2年,终身维修。
电化学CV分布仪(CV测试仪)
产品经理:Mike Zhai
联系电话:021- 34635258/59/61/62
手 机:
邮 箱:mike@rays**********