手机版 |
产品分类 |
光学仪器及设备
PL光致发光成像太阳能电池生产检测设备
lyncee+材料3D实时动态显微镜+DHM™ R2100
Denselight SLD
细胞3D实时动态显微镜
Yenista+Tunics Reference+高性能可调激光光源
yenista+OSICS T100+窄线宽可调激光器
Yenista+TUNICS T100R+可调谐激光器
Yenista+T100S-HP+高功率可调激光器
fiberlabs光纤放大器S波段
fiberlabs光纤放大器0波段
其他
Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪
光伏电池测试太阳模拟器
光伏测试太阳模拟器
变温霍尔效应测试仪
IV测试,QE测试用探针台样品台PVM
制备多晶硅太阳电池的氮化硅涂层沉积设备
在线式HIT用PECVD MVS
卷对卷柔性薄膜沉积设备MVS
已封装的标准太阳能电池
已校准的标准太阳能电池
半导体行业专用仪器
霍尔效应测试仪
膜厚光谱分析仪系统
嵌入式膜厚测试仪
膜厚测量仪
椭圆偏光膜厚测量仪(手动)
椭圆偏光膜厚测试仪(自动)
反射式膜厚测量仪
Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
太赫兹时域光谱仪TDS
测量/计量仪器
接触电阻率测试仪
HalfMoon LED光色电检查系统
台阶仪
PLUTO高精度纯相位空间光调制器系统
空间光调制器Holoeye
光谱检测分析仪
FX2000工业级微型光谱仪
PG2000-Pro科研级高灵敏光谱仪
NOVA实验级制冷型光纤光谱仪
碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪傅立叶红外光谱仪
FTE-8000手持式光谱分析仪
相关仪表
WCT-120PL产品分别采用标准QSSPC方法和光致发光法测量硅片的载流子寿命
单锥拉锥系统
保偏光纤耦合器熔融拉锥机
普通单模光纤拉锥系统
电化学仪器
电化学ECV +掺杂浓度PN结深测试+CVP21
电化学CV分布仪(CV测试仪)
辐射测量仪器
太赫兹探测器高莱探测器THz Golay cell
制样/消解设备
溅射设备MVS
无损检测/无损探伤仪器
CoreScan、Sherescan电池片面电阻测试系统
联系方式 |
产品系列
产品描述
产品特色:
将样品的非发光组件设置于积分球外部,可降低发光源被吸收所产生的误差,*适合用于光通量评价。
以镜面反射,亮度(感度)达到2倍,提升测量精度。
虚拟的对称配光,降低积分误差。
搭配电源供应器,可自动变更电压、电流进行测量(选配)。
搭配温度控制器,可自动变更样品温度进行测量(选配)。
特色1 测量精度的提高
将样品的非发光组件设置于积分球外部,可减低发光源被吸收所产生的误差。
特色2 **的面光源测量
特色3 使用操作不占空间
特色4 自由变更点灯方向
特色5 对应多样化光源测量
测量项目:
光通量(JIS C 7801:2009 / JIS C 8152:2007)
光通量放射束(光谱)
色度座标(u, v) (CIE 1960UCS)
色度座标(x, y) (JIS Z 8724:1997)
色度座标(u,, v,) (CIE 1976UCS)
相关色温与Duv(JIS Z 8725:1999)
主波长(Dominant)与刺激纯度(Purity) (JIS Z 8701:1999)
演色指数(Ra,R1~R15)(JIS Z 8726:1990)