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光学仪器及设备
PL光致发光成像太阳能电池生产检测设备
lyncee+材料3D实时动态显微镜+DHM™ R2100
Denselight SLD
细胞3D实时动态显微镜
Yenista+Tunics Reference+高性能可调激光光源
yenista+OSICS T100+窄线宽可调激光器
Yenista+TUNICS T100R+可调谐激光器
Yenista+T100S-HP+高功率可调激光器
fiberlabs光纤放大器S波段
fiberlabs光纤放大器0波段
其他
Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪
光伏电池测试太阳模拟器
光伏测试太阳模拟器
变温霍尔效应测试仪
IV测试,QE测试用探针台样品台PVM
制备多晶硅太阳电池的氮化硅涂层沉积设备
在线式HIT用PECVD MVS
卷对卷柔性薄膜沉积设备MVS
已封装的标准太阳能电池
已校准的标准太阳能电池
半导体行业专用仪器
霍尔效应测试仪
膜厚光谱分析仪系统
嵌入式膜厚测试仪
膜厚测量仪
椭圆偏光膜厚测量仪(手动)
椭圆偏光膜厚测试仪(自动)
反射式膜厚测量仪
Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
太赫兹时域光谱仪TDS
测量/计量仪器
接触电阻率测试仪
HalfMoon LED光色电检查系统
台阶仪
PLUTO高精度纯相位空间光调制器系统
空间光调制器Holoeye
光谱检测分析仪
FX2000工业级微型光谱仪
PG2000-Pro科研级高灵敏光谱仪
NOVA实验级制冷型光纤光谱仪
碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪傅立叶红外光谱仪
FTE-8000手持式光谱分析仪
相关仪表
WCT-120PL产品分别采用标准QSSPC方法和光致发光法测量硅片的载流子寿命
单锥拉锥系统
保偏光纤耦合器熔融拉锥机
普通单模光纤拉锥系统
电化学仪器
电化学ECV +掺杂浓度PN结深测试+CVP21
电化学CV分布仪(CV测试仪)
辐射测量仪器
太赫兹探测器高莱探测器THz Golay cell
制样/消解设备
溅射设备MVS
无损检测/无损探伤仪器
CoreScan、Sherescan电池片面电阻测试系统
联系方式 |
产品系列
产品描述
产品特点:
? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。
? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率,k消光系数)。
? 宽阔的波长测量范围。(190nm-1100nm)
? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。(1nm~250μm)
? 对应显微镜下的微距测量口径。
产品规格:
标准型 | 厚膜专用型 | ||
膜存测量范围 | 1nm~40μm | 0.8μm~250μm | |
波长测量范围 | 190~1100nm | 750~850nm | |
感光元件 | PDA 512ch(电子制冷) | CCD 512ch(电子制冷) | PDA 512ch(电子制冷) |
光源规格 | D2(紫外线)、12(可见光)、D2+12(紫外-可见光) | 12(可见光) | |
电源规格 | AC 100V±10V 750VA(自动样品台规格) | ||
尺寸 | 4810(H)×770(D)×714(W)mm(自动样品台规格之主体部分) | ||
重量 | 约96kg(自动样品台规格之主体部分) |
应用范围:
FPD
-LCD、TFT、OLED(有机EL)
半导体、复合半导体
-矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料
资料储存
-DVD、磁头薄膜、磁性材料
光学材料
-滤光片、抗反射膜
平面显示器
-液晶显示器、膜膜电晶体、OLED
薄膜
-AR膜
其他
-建筑用材料
测量范围:
玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析