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光学仪器及设备
PL光致发光成像太阳能电池生产检测设备
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Denselight SLD
细胞3D实时动态显微镜
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其他
Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪
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光伏测试太阳模拟器
变温霍尔效应测试仪
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制备多晶硅太阳电池的氮化硅涂层沉积设备
在线式HIT用PECVD MVS
卷对卷柔性薄膜沉积设备MVS
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已校准的标准太阳能电池
半导体行业专用仪器
霍尔效应测试仪
膜厚光谱分析仪系统
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膜厚测量仪
椭圆偏光膜厚测量仪(手动)
椭圆偏光膜厚测试仪(自动)
反射式膜厚测量仪
Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
太赫兹时域光谱仪TDS
测量/计量仪器
接触电阻率测试仪
HalfMoon LED光色电检查系统
台阶仪
PLUTO高精度纯相位空间光调制器系统
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光谱检测分析仪
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PG2000-Pro科研级高灵敏光谱仪
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碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪傅立叶红外光谱仪
FTE-8000手持式光谱分析仪
相关仪表
WCT-120PL产品分别采用标准QSSPC方法和光致发光法测量硅片的载流子寿命
单锥拉锥系统
保偏光纤耦合器熔融拉锥机
普通单模光纤拉锥系统
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电化学ECV +掺杂浓度PN结深测试+CVP21
电化学CV分布仪(CV测试仪)
辐射测量仪器
太赫兹探测器高莱探测器THz Golay cell
制样/消解设备
溅射设备MVS
无损检测/无损探伤仪器
CoreScan、Sherescan电池片面电阻测试系统
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产品系列
产品描述
仪器简介:
产品概述
PLUTO 纯相位调制器基于反射式LCoS微显示屏,分辨率:1920×1080像素。结构紧凑,便于集成到光路中。有三种选择,分别是可见波段420nm~810nm、近红外波段800nm~1100nm和通讯波段1550nm。
特殊光学特征
纯相位调制
直到1550nm能实现2π的相位调制
像素大小8μm
针对三个波段做了**化处理
高效率/高填充率
显示应用、成像&投影、光束分束、激光束整形、相干波前调制、相位调制、光学镊子、全息投影、激光脉冲整形等
技术参数:
主要参数
显示屏分辨率象素间距填充率寻址速率针频速率信号形式
有效面积
15.36mm×8.64mm
像素数
1920×1080
调制器光学头类型
反射式
相位变化范围
2π弧度@420-850nm
像素间距
8um
图像帧速率
60 Hz
工作光谱范围
可见光(420-850nm)
填充因子
87%
调制类型
纯相位调制
标准附件
高精度纯相位LCOS显示面板、数模转换驱动、电源、DVI数据线、RS232数据线、用户使用手册、驱动和应用软件、PCI卡,带2个DVI接口
应用领域
显示应用、成像&投影、光束分束、激光束整形、相干波前调制、相位调制、光学镊子、全息投影、激光脉冲整形等。
主要特点:
应用领域
显示应用、成像&投影、光束分束、激光束整形、相干波前调制、相位调制、光学镊子、全息投影、激光脉冲整形等。
标准附件
高精度纯相位LCOS显示面板、数模转换驱动、电源、DVI数据线、RS232数据线、用户使用手册、驱动和应用软件、PCI卡,带2个DVI接口